高度卡尺的校准需遵循严格的规范流程,涵盖前期准备、校准实施、结果处理三个核心环节,具体规范如下:
一、前期准备
环境条件
温度:20℃±5℃(避免热胀冷缩影响精度)。
湿度:≤80%RH(防止电子元件受潮或金属部件生锈)。
清洁度:无振动、无灰尘,确保测量基准面无污染。
校准工具
标准量块:根据高度卡尺量程选择0级或1级精度量块。
校准平台:大理石或铸铁平台,平面度误差≤0.005mm。
清洁工具:无尘布、酒精(用于清洁卡尺和量块)。
记录工具:校准记录表、笔。
设备检查
外观检查:确认卡尺无裂纹、锈蚀、划痕,刻度清晰。
功能检查:滑动是否顺畅,锁紧装置是否有效,数字显示是否正常(如为电子卡尺)。
等温处理:将卡尺与量块放置在校准环境中至少2小时,消除温度差异。
二、校准实施
零位校准
将高度卡尺的测量爪(或测头)轻轻接触平台表面。
调整卡尺零位,使刻度归零(或数字显示为0.00mm),确保测量爪与平台表面贴合无间隙。
重复3次,取平均值作为零位基准。
示值误差校准
校准点选择:至少选择5个校准点,均匀分布在量程内(如0mm、50mm、100mm、150mm、200mm)。
操作步骤:
将标准量块(如5mm、10mm、20mm等)放置在平台上。
用高度卡尺测量量块高度,记录卡尺示值。
计算示值误差:误差 = 卡尺示值 - 量块标准值(示例:量块标准值10.000mm,卡尺示值10.002mm,误差为+0.002mm)。
误差需在允许范围内(如精度等级为0.02mm的卡尺,允许示值误差≤±0.02mm)。
重复性校准
在同一校准点(如100mm)重复测量5次。
记录每次示值,计算最大值与最小值之差(示例:测量值100.001mm、100.002mm、100.001mm、100.002mm、100.001mm,重复性误差为0.001mm)。
重复性误差需满足要求(如≤0.005mm)。
平行度校准
将卡尺固定在平台上,测量爪分别接触两个平行平面(如量块侧面)。
记录测量值,计算平行度误差。
误差需在允许范围内(如≤0.03mm)。
三、结果处理
误差调整
若误差超出允许范围,需调整卡尺(如微调零位螺丝、清洁测量爪)。
调整后重新校准,直至误差符合要求。
记录与报告
记录校准日期、环境条件、校准人员、校准点、标准值、卡尺示值、误差值、是否合格及调整情况。
出具校准证书,注明有效期(通常为1年)。
不合格处理
对不合格卡尺进行维修或报废。
定期(如每月)进行简单核查,确保长期稳定性。